梅特勒-托利多作為全球領先的精密儀器與服務供應商，推出了新型 XP105 分析天平，進一步拓展了豐富的 XP 天平系列。XP105 天平為實驗室環境中糖分純度的定量分析提供了安全、準確的解決方案，降低誤差風險、提高效率以及易于操作。選配 LabX Balance軟件，只需簡單設置，即可引導操作人員完成稱量過程。
由于實驗室環境中通常存在硫酸等腐蝕性物質，因此確保安全性至關重要。當操作人員戴上防護手套的同時，還必須確保實驗室儀器堅固、耐用，且易于操作。此外，為避免樣品混淆等差錯，易于執行的差重稱量應用程序和自動識別樣品功能是首要必備的條件。

針對這一類應用的理想解決方案就是XP105天平（量程為 100 g，可讀性為 0.01 mg）。

XP105 天平的紅外感應系統（ SmartSens ），幫助用戶實現無需用手接觸天平的稱量操作，這對在稱量過程中需戴手套的操作人員來說尤為重要。天平的觸摸式顯示屏為操作人員提供了清晰的操作指導，指導操作人員完成包括樣品標識認證在內的稱量過程，從而降低差錯風險、提高效率。

LabX Balance軟件使電腦與 XP105 天平輕松連接。通過對軟件進行設置，可指導用戶根據天平彩色觸摸屏上顯示的有關用戶標準操作程序（SOP）的個性化對話框完成稱量過程。這種遠程功能和可追溯性文件記錄可顯著優化實驗室工藝過程的效率。